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    CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 CHY-CA薄膜测厚仪技术特征： 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定 实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果 系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 支持Lystem&#8482；实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告 CHY-CA薄膜测厚仪技术特征： 测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选） 分辨率：0.1μm 测量速度：10 次/min （可调） 测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 进样步距：0～1000 mm 进样速度：0.1～99.9 mm/s 电源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 净重：32kg 了解详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询

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